磁性元件分析儀簡介
磁性元件分析儀使用汞侵入法來測定總孔體積、孔徑分布、孔隙率、密度和傳輸性。內(nèi)置強大的數(shù)據(jù)處理和報告程序包，快速升壓、靈活、可控的真空系統(tǒng)，和高性能的低/高壓系統(tǒng)。
技術特點
· 孔徑范圍：0.003到 1000 μm
· 磁性元件分析儀可選擇2個低壓站和1個高壓站或者4個低壓站和2個高壓站，以滿足多種樣品的檢測
· 防護性能高更，即使在高壓和有毒的物質(zhì)汞環(huán)境下仍可放心使用
· 可選擇壓力33,000 psi或者壓力60,000 psi型號
· 低噪音，高壓系統(tǒng)
· 增強的數(shù)據(jù)處理包，包括彎曲度、滲透性、壓縮系數(shù)、孔喉比、分形維數(shù)，Mayer-Stowe粒徑分布等
· 可進行掃描模式或速率平衡模式操作
· 收集極高分辨率的數(shù)據(jù); 進汞或退汞體積精度優(yōu)于0.1μL
· 封閉式汞系統(tǒng) –用汞量低
產(chǎn)品應用
壓汞儀用來測定粉末和固體重要的物理特性，如孔徑分布、總孔體積、總孔表面積、中值孔徑、樣品的密度（真密度和堆密度）、流體導電性和機械性能。
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